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Wooptix installe son système de métrologie des wafers au CEA-Leti
西班牙Wooptix公司首次将其Phemet晶圆计量系统工业部署于法国CEA-Leti研究所,该系统能以超快速度和亚纳米级分辨率测量硅晶圆的形状与几何,助力深化对半导体工艺的理解。
Wooptix Installs First Phemet® Metrology System at CEA-Leti
Wooptix在法国CEA-Leti研究所首次安装其Phemet®生产计量系统,建立长期合作,共同开展晶圆级工艺表征和先进封装计量研发。该系统提供亚纳米级超快晶圆几何测量,助力Wooptix在尖端环境中优化技术,并满足高量产制造对更小、更复杂器件的精度需求。
Wooptix installe le premier système de métrologie Phemet® au CEA-Leti
Wooptix 公司已在法国 CEA-Leti 研究所安装了其首台量产级 Phemet® 半导体晶圆测量系统,标志着双方围绕晶圆级工艺特征与先进封装测量的长期合作正式启动。该系统能提供亚纳米级精度的超快晶圆形状与几何参数测量,旨在应对高量产制造中日益严苛的工艺控制需求。
Wooptix installe le premier système de métrologie Phemet® au CEA-Leti
西班牙计量公司Wooptix宣布在法国格勒诺布尔的CEA-Leti研发中心成功首次部署其Phemet®晶圆计量系统,双方将展开长期合作。该系统于2026年5月安装,提供亚纳米级精度的高速晶圆形状测量,面向先进封装与大规模制造的过程控制。此举将助力Wooptix借助欧洲顶尖半导体研发平台优化技术并探索新应用。