马纳萨·马德瓦拉吉（RMS团队）论文答辩：GHz频率下亚皮秒分辨率随机抖动测量的自参考BIST技术
Thesis defence of Manasa Madhvaraj (RMS team): Self-referenced BIST for random jitter measurement with sub-picosecond resolution at GHz frequency
摘要
法国博士生Manasa Madhvaraj（RMS团队）成功完成论文答辩，其研究主题为"GHz频率下亚皮秒分辨率的随机抖动自参考BIST测量技术"。该技术通过创新的自参考内置自测试（BIST）方案，实现了对高速信号随机抖动的高精度测量，有望提升集成电路测试效率与可靠性。
法国博士生Manasa Madhvaraj（RMS团队）成功完成论文答辩，其研究主题为"GHz频率下亚皮秒分辨率的随机抖动自参考BIST测量技术"。该技术通过创新的自参考内置自测试（BIST）方案，实现了对高速信号随机抖动的高精度测量，有望提升集成电路测试效率与可靠性。
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Summary
Manasa Madhvaraj from the RMS team defended her thesis on a novel built-in self-test (BIST) method for measuring random jitter in high-speed circuits. The research achieves sub-picosecond resolution at GHz frequencies, which is critical for advancing the performance and reliability of next-generation semiconductor devices. This work addresses key challenges in integrated circuit testing, potentially improving quality control for high-frequency applications like processors and communication systems.
Manasa Madhvaraj from the RMS team defended her thesis on a novel built-in self-test (BIST) method for measuring random jitter in high-speed circuits. The research achieves sub-picosecond resolution at GHz frequencies, which is critical for advancing the performance and reliability of next-generation semiconductor devices. This work addresses key challenges in integrated circuit testing, potentially improving quality control for high-frequency applications like processors and communication systems.
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Résumé
Manasa Madhvaraj, de l'équipe RMS, a soutenu sa thèse sur une méthode BIST auto-référencée pour mesurer le gigue aléatoire avec une résolution sub-picoseconde à des fréquences GHz. Ce travail, mené au sein d'une équipe de recherche spécialisée, vise à améliorer la précision des tests intégrés des circuits haute performance. L'avancée technologique présente un impact significatif pour la caractérisation des systèmes électroniques rapides, notamment dans les domaines des télécommunications et du calcul.
Manasa Madhvaraj, de l'équipe RMS, a soutenu sa thèse sur une méthode BIST auto-référencée pour mesurer le gigue aléatoire avec une résolution sub-picoseconde à des fréquences GHz. Ce travail, mené au sein d'une équipe de recherche spécialisée, vise à améliorer la précision des tests intégrés des circuits haute performance. L'avancée technologique présente un impact significatif pour la caractérisation des systèmes électroniques rapides, notamment dans les domaines des télécommunications et du calcul.
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2026-04-14 23:12
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